Italia – Microscopi elettronici a scansione – Fornitura di un microscopio FIB/SE… – Enea (scadenza 11/05/2026)
Italia – Microscopi elettronici a scansione – Fornitura di un microscopio FIB/SEM presso il Laboratorio di Superconduttività del Dipartimento NUC del centro ENEA di Frascati Stazione appaltante: Enea Scadenza 11/05/2026 Gara scaduta, in attesa di aggiudicazione
Riepilogo
OggettoItalia – Microscopi elettronici a scansione – Fornitura di un microscopio FIB/SEM presso il Laboratorio di Superconduttività del Dipartimento NUC del centro ENEA di Frascati
Stazione appaltanteEnea
StatoGara scaduta, in attesa di aggiudicazione
CPV 38511100
Scadenza presentazione offerta11/05/2026